熱電阻溫度計用途

iTHERM TM401

熱電(dian)阻(RTD)溫度計(ji)，適用(yong)于衛生和無菌應用(yong)場(chang)合

公制(zhi)型儀表，采用(yong)通用(yong)技術

適(shi)用于所(suo)有標準應用場(chang)合，帶固(gu)定(ding)不可更(geng)換鎧裝 芯子

應用

• 專門設計用于食品(pin)&飲料(liao)和生(sheng)命科(ke)學行(xing)業中的衛生(sheng)和無菌應用場合

• 測量范圍為–50…+200 °C (–58…+392 °;F)

• Z大壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高(gao)防護等(deng)為 IP69K

• 可(ke)以在(zai)非防(fang)爆區域中使用

熱電阻溫度計用途

模塊化變送器

相(xiang)比于不經過(guo)溫度(du)變送器而直(zhi)接(jie)接(jie)線的測(ce)量方(fang)法，Endress+Hauser 能為用戶提供 高測(ce)量精度(du)、高測(ce)量可靠性的溫度(du)變送器。根據實際工(gong)況(kuang)條(tiao)件，選擇下(xia)列信號輸(shu)出 和通信方(fang)式：

4…20 mA HART®模擬(ni)量輸(shu)出

優勢(shi)

• 高性價比和發貨迅速

• 用(yong)戶友好且可靠的從產品選型(xing)至維護過程

• 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)：衛生型標準(zhun)，符合 3-A®認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、EHEDG 測試(shi)、ASME BPE 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、FDA 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、TSE 適用性認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)

• 提供(gong)多種過程連接

測量原理

熱電阻(zu)(RTD)

熱(re)(re)電阻(zu)采用(yong)符合 IEC 60751 標準(zhun)的 Pt100 溫(wen)度(du)傳感(gan)器。溫(wen)度(du)傳感(gan)器為(wei)溫(wen)度(du)敏感(gan)性鉑熱(re)(re)電阻(zu)，阻(zu)抗 為(wei) 100 ? (0 °C (32 °F)時)，溫(wen)度(du)系數為(wei) α = 0.003851 °C-1。

通常，有(you)兩(liang)種不同類型的鉑熱(re)電阻：

• 繞(rao)線(xian)式(shi)(WW)：由兩根細的(de)高(gao)純(chun)度鉑(bo)絲在(zai)陶(tao)瓷(ci)載體內(nei)繞(rao)制而成(cheng)，并通過陶(tao)瓷(ci)保護(hu)層在(zai)載體頂部(bu) 和底(di)部(bu)對鉑(bo)絲進行密封(feng)處理。此(ci)類熱電阻具有(you)高(gao)可重(zhong)現性(xing)，過程溫度高(gao)達 600 °C (1112 °F)時(shi)， 仍能保證良(liang)好(hao)的(de)阻抗-溫度關系的(de)長期穩(wen)定性(xing)。繞(rao)線(xian)式(shi)(WW)熱電阻的(de)體積較大，抗振性(xing)較差。

• 薄膜(mo)式鉑(bo)電阻溫度(du)(du)(du)計(TF)：在真(zhen)空狀態下，將(jiang)厚度(du)(du)(du)約為(wei) 1 μm 的(de)超高純度(du)(du)(du)鉑(bo)層(ceng)汽化(hua)固定在陶瓷基 板上，光刻制作而成(cheng)(cheng)。由此(ci)構成(cheng)(cheng)的(de)鉑(bo)導體形成(cheng)(cheng)測量(liang)阻抗。附(fu)加(jia)覆蓋層(ceng)和(he)鈍化(hua)層(ceng)可靠保(bao)護薄鉑(bo) 層(ceng)，防止(zhi)高溫條件下出現氧化(hua)和(he)污染。

薄(bo)膜式(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)與繞線式(shi)(WW)熱(re)電(dian)阻(zu)相比，突出優(you)點為較小(xiao)的(de)體積和較好(hao)的(de)抗(kang)振性。高溫(wen)(wen)條件 下，薄(bo)膜式(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)的(de)阻(zu)抗(kang)-溫(wen)(wen)度關系偏差較小(xiao)，符合(he) IEC 60751 標準。因此，薄(bo)膜式(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)的(de)溫(wen)(wen)度測量(liang)誤(wu)差可(ke)達(da)溫(wen)(wen)度等(deng) A，符合(he) IEC 60751 標準(Z高溫(wen)(wen)度約為 300 °C (572 °F))。所(suo)以， 薄(bo)膜式(shi)(TF)熱(re)電(dian)阻(zu)通(tong)常(chang)僅在(zai)溫(wen)(wen)度低(di)于 400 °C (752 °F)的(de)條件下測量(liang)。