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熱電阻溫度計特征

簡要描述:

iTHERM TM401
熱電阻溫度計特征,適用于衛生和無菌應用場合
公制型儀表,采用通用技術
適用于所有標準應用場合,帶固定不可更換鎧裝 芯子
供應熱電阻溫度計

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熱電阻溫度計特征

iTHERM TM401

熱電阻(RTD)溫度(du)計,適用于衛(wei)生和無菌應用場合

公制型(xing)儀表,采(cai)用(yong)通用(yong)技術

適用于所有標準(zhun)應用場合,帶固定不可(ke)更換(huan)鎧裝 芯子

熱電阻溫度計特征

應(ying)用

• 專門(men)設計用于食品&飲料(liao)和生命科學行業中(zhong)的衛生和無菌應用場(chang)合

• 測量范(fan)圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓(ya)力為(wei) 50 bar (725 psi)

• Z高防護等(deng)為 IP69K

• 可以在非(fei)防爆區域(yu)中(zhong)使用

模塊(kuai)化變(bian)送器

相比于不經(jing)過溫度(du)(du)變(bian)送器而(er)直接接線的(de)測量方(fang)法(fa),Endress+Hauser 能為用戶(hu)提供 高(gao)測量精度(du)(du)、高(gao)測量可靠性的(de)溫度(du)(du)變(bian)送器。根據(ju)實際(ji)工況條件,選擇下列信號輸(shu)出 和(he)通信方(fang)式:

4…20 mA HART®模(mo)擬量(liang)輸出

優(you)勢

• 高性價比和發貨迅速

• 用戶友(you)好且可靠的從產品(pin)選型至維(wei)護過(guo)程

• 認(ren)(ren)證(zheng):衛生型(xing)標準,符合 3-A®認(ren)(ren)證(zheng)、EHEDG 測(ce)試、ASME BPE 認(ren)(ren)證(zheng)、FDA 認(ren)(ren)證(zheng)、TSE 適用性認(ren)(ren)證(zheng)

• 提供多種(zhong)過程連接

測量原(yuan)理(li)

熱電阻(RTD)

熱電阻(zu)采用符合 IEC 60751 標準的 Pt100 溫度(du)(du)傳(chuan)感器。溫度(du)(du)傳(chuan)感器為(wei)(wei)溫度(du)(du)敏感性鉑熱電阻(zu),阻(zu)抗 為(wei)(wei) 100 ? (0 °C (32 °F)時),溫度(du)(du)系數(shu)為(wei)(wei) α = 0.003851 °C-1。

通常,有(you)兩種不同類型的鉑熱電阻(zu):

• 繞(rao)(rao)線式(shi)(WW):由兩根(gen)細的(de)(de)高(gao)純度(du)鉑絲在(zai)陶瓷(ci)載體(ti)內(nei)繞(rao)(rao)制而成,并(bing)通過陶瓷(ci)保(bao)護層(ceng)在(zai)載體(ti)頂部 和(he)底(di)部對鉑絲進行密封處理。此類熱(re)電(dian)阻(zu)具(ju)有高(gao)可重(zhong)現(xian)性(xing),過程(cheng)溫(wen)度(du)高(gao)達(da) 600 °C (1112 °F)時, 仍(reng)能保(bao)證良好(hao)的(de)(de)阻(zu)抗(kang)-溫(wen)度(du)關系(xi)的(de)(de)長期穩定性(xing)。繞(rao)(rao)線式(shi)(WW)熱(re)電(dian)阻(zu)的(de)(de)體(ti)積較大,抗(kang)振性(xing)較差。

• 薄膜式(shi)鉑電(dian)阻溫度(du)(du)計(TF):在真(zhen)空狀態下,將厚度(du)(du)約為 1 μm 的超高純度(du)(du)鉑層(ceng)汽化(hua)固定在陶瓷基(ji) 板上,光刻制(zhi)作(zuo)而成。由(you)此構成的鉑導(dao)體形成測(ce)量阻抗。附(fu)加覆(fu)蓋層(ceng)和鈍化(hua)層(ceng)可靠保護(hu)薄鉑 層(ceng),防(fang)止高溫條件(jian)下出現氧化(hua)和污(wu)染。

薄膜式(shi)(TF)熱(re)電阻與繞線(xian)式(shi)(WW)熱(re)電阻相比,突(tu)出(chu)優點為較(jiao)小的(de)體積(ji)和較(jiao)好的(de)抗(kang)振性。高(gao)溫(wen)(wen)條(tiao)件(jian) 下(xia),薄膜式(shi)(TF)熱(re)電阻的(de)阻抗(kang)-溫(wen)(wen)度關系偏差較(jiao)小,符合(he) IEC 60751 標(biao)準(zhun)。因(yin)此,薄膜式(shi)(TF)熱(re)電阻的(de)溫(wen)(wen)度測(ce)量誤差可達溫(wen)(wen)度等 A,符合(he) IEC 60751 標(biao)準(zhun)(Z高(gao)溫(wen)(wen)度約為 300 °C (572 °F))。所以, 薄膜式(shi)(TF)熱(re)電阻通(tong)常僅(jin)在溫(wen)(wen)度低(di)于 400 °C (752 °F)的(de)條(tiao)件(jian)下(xia)測(ce)量。

Endress+Hauser 提供用于(yu)溫(wen)度(du)測量點(dian)的整套(tao)優化部件,包括(kuo)將測量點(dian)無(wu)縫集成至整個(ge)工廠中的所(suo) 有(you)所(suo)需(xu)部件。包括(kuo):

• 電源單元(yuan)/隔離(li)柵

• 顯示單元

• 過(guo)電壓保護單元

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    021-66068009

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