供應熱電阻溫度計作用iTHERM TM401

熱(re)電阻(RTD)溫(wen)度計(ji)，適(shi)用于衛生和(he)無菌應用場合

公(gong)制型儀表，采用通用技(ji)術

適用(yong)于所有標(biao)準應用(yong)場合，帶固定不(bu)可更換鎧裝(zhuang) 芯子

供應熱電阻溫度計作用應用

• 專門設(she)計(ji)用于食品(pin)&飲料和生命科學行業(ye)中(zhong)的衛生和無菌(jun)應用場合

• 測量范(fan)圍為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等為(wei) IP69K

• 可以在(zai)非防爆區域中使用

模塊(kuai)化變送器(qi)

相(xiang)比于不經(jing)過(guo)溫(wen)度變(bian)送(song)器而直接接線的測量(liang)方法，Endress+Hauser 能為用戶提供 高(gao)測量(liang)精度、高(gao)測量(liang)可靠性的溫(wen)度變(bian)送(song)器。根據(ju)實際工況條件(jian)，選(xuan)擇(ze)下列信號輸出 和通信方式(shi)：

4…20 mA HART®模擬量輸出

優(you)勢(shi)

• 高性價比(bi)和發貨迅(xun)速

• 用戶(hu)友好且可靠(kao)的從產(chan)品選型至維護過程

• 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)：衛生型標準，符合(he) 3-A®認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、EHEDG 測試、ASME BPE 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、FDA 認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)、TSE 適用性(xing)認(ren)(ren)證(zheng)(zheng)

• 提供多種過程連接

測量(liang)原理

熱(re)電阻(RTD)

熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)采用符合 IEC 60751 標準的(de) Pt100 溫度傳感器(qi)。溫度傳感器(qi)為(wei)溫度敏感性鉑熱(re)電(dian)阻(zu)(zu)，阻(zu)(zu)抗 為(wei) 100 ? (0 °C (32 °F)時)，溫度系數為(wei) α = 0.003851 °C-1。

通常(chang)，有(you)兩種不同類型的鉑熱電阻：

• 繞(rao)線(xian)式(shi)(WW)：由兩(liang)根細(xi)的高(gao)純度鉑(bo)絲在陶(tao)(tao)瓷(ci)載(zai)體(ti)內繞(rao)制而成，并通(tong)過陶(tao)(tao)瓷(ci)保護層(ceng)在載(zai)體(ti)頂部(bu) 和底(di)部(bu)對鉑(bo)絲進行(xing)密封處理。此類熱電(dian)阻(zu)具(ju)有高(gao)可重(zhong)現性，過程溫度高(gao)達 600 °C (1112 °F)時(shi)， 仍能保證良(liang)好(hao)的阻(zu)抗(kang)-溫度關系的長期穩(wen)定性。繞(rao)線(xian)式(shi)(WW)熱電(dian)阻(zu)的體(ti)積較(jiao)(jiao)大，抗(kang)振(zhen)性較(jiao)(jiao)差。

• 薄(bo)膜式鉑(bo)(bo)(bo)電(dian)阻溫(wen)(wen)度計(TF)：在真(zhen)空狀態下，將厚(hou)度約為 1 μm 的(de)超高純度鉑(bo)(bo)(bo)層汽化(hua)固(gu)定在陶瓷(ci)基 板(ban)上，光刻(ke)制作而成。由(you)此構成的(de)鉑(bo)(bo)(bo)導體形成測量阻抗。附加覆蓋層和鈍化(hua)層可靠保護薄(bo)鉑(bo)(bo)(bo) 層，防止高溫(wen)(wen)條件(jian)下出現氧化(hua)和污染。

薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)與(yu)繞(rao)線(xian)式(WW)熱(re)電阻(zu)(zu)相比(bi)，突出優點(dian)為(wei)較(jiao)(jiao)小(xiao)的(de)(de)體積(ji)和較(jiao)(jiao)好的(de)(de)抗振性。高溫(wen)(wen)(wen)(wen)條(tiao)件 下，薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)的(de)(de)阻(zu)(zu)抗-溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)關系偏差較(jiao)(jiao)小(xiao)，符合 IEC 60751 標(biao)準。因此(ci)，薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)的(de)(de)溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)測量誤差可達溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)等 A，符合 IEC 60751 標(biao)準(Z高溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)約為(wei) 300 °C (572 °F))。所(suo)以， 薄(bo)(bo)膜(mo)式(TF)熱(re)電阻(zu)(zu)通(tong)常僅在溫(wen)(wen)(wen)(wen)度(du)低于(yu) 400 °C (752 °F)的(de)(de)條(tiao)件下測量。

Endress+Hauser 提供用于溫度測量點(dian)的整套(tao)優化部(bu)件，包括(kuo)將測量點(dian)無縫集成至整個(ge)工廠中的所 有所需部(bu)件。包括(kuo)：

• 電源單元/隔(ge)離柵

• 顯示單元

• 過電壓保護單(dan)元

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