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供應熱電阻溫度計廠房

簡要描述:

供應熱電阻溫度計廠房熱電阻(RTD)溫度計,適用于衛生和無菌應用場合
公制型儀表,采用通用技術
適用于所有標準應用場合,帶固定不可更換鎧裝 芯子
供應熱電阻溫度計

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供應熱電阻溫度計廠房iTHERM TM401

熱電阻(RTD)溫度計,適用于衛生和無菌應用場合

公制型儀表,采用通用技術

適用(yong)于所有(you)標準應(ying)用(yong)場合(he),帶固定不(bu)可(ke)更換鎧裝 芯子(zi)

供應熱電阻溫度計廠房應(ying)用

• 專門(men)設計(ji)用于食品&飲料和生命(ming)科(ke)學行(xing)業中(zhong)的衛生和無菌應用場合

• 測量范圍(wei)為–50…+200 °C (–58…+392 °F)

• Z大壓力為 50 bar (725 psi)

• Z高防護等為 IP69K

• 可以(yi)在非防爆區域中使(shi)用

模(mo)塊化變送器

相比于不(bu)經過溫(wen)(wen)度(du)(du)變送器(qi)而直(zhi)接接線的測(ce)(ce)量方(fang)法,Endress+Hauser 能為(wei)用戶提供 高測(ce)(ce)量精度(du)(du)、高測(ce)(ce)量可靠性的溫(wen)(wen)度(du)(du)變送器(qi)。根據實際工況條件(jian),選擇下列信號輸出 和通信方(fang)式(shi):

4…20 mA HART®模擬(ni)量輸(shu)出

優勢(shi)

• 高(gao)性價比和發貨迅速(su)

• 用戶友好且可靠的從產品選型至維護過程

• 認(ren)證(zheng)(zheng)(zheng):衛(wei)生型標(biao)準,符合(he) 3-A®認(ren)證(zheng)(zheng)(zheng)、EHEDG 測(ce)試、ASME BPE 認(ren)證(zheng)(zheng)(zheng)、FDA 認(ren)證(zheng)(zheng)(zheng)、TSE 適用性認(ren)證(zheng)(zheng)(zheng)

• 提供多種過程連(lian)接

測量原理

熱電(dian)阻(RTD)

熱電阻采(cai)用符合 IEC 60751 標準的 Pt100 溫(wen)度(du)傳感(gan)器。溫(wen)度(du)傳感(gan)器為溫(wen)度(du)敏(min)感(gan)性(xing)鉑熱電阻,阻抗 為 100 ? (0 °C (32 °F)時),溫(wen)度(du)系數為 α = 0.003851 °C-1。

通常,有兩種不同(tong)類(lei)型的鉑(bo)熱電阻:

• 繞(rao)線(xian)式(WW):由兩(liang)根細的高(gao)(gao)純度(du)鉑絲在(zai)陶(tao)瓷(ci)載(zai)體內繞(rao)制而成(cheng),并通過(guo)(guo)陶(tao)瓷(ci)保(bao)護層在(zai)載(zai)體頂(ding)部 和底部對鉑絲進行密封(feng)處理。此類熱(re)電阻具(ju)有高(gao)(gao)可重現性(xing),過(guo)(guo)程(cheng)溫度(du)高(gao)(gao)達 600 °C (1112 °F)時, 仍能保(bao)證(zheng)良好的阻抗(kang)-溫度(du)關系的長(chang)期穩定(ding)性(xing)。繞(rao)線(xian)式(WW)熱(re)電阻的體積較大,抗(kang)振(zhen)性(xing)較差。

• 薄膜式(shi)鉑(bo)電阻溫度(du)計(TF):在(zai)(zai)真空狀態(tai)下(xia)(xia),將厚度(du)約(yue)為(wei) 1 μm 的(de)超高純度(du)鉑(bo)層汽化固定(ding)在(zai)(zai)陶(tao)瓷基 板上,光刻(ke)制作而(er)成。由此構成的(de)鉑(bo)導體(ti)形成測量(liang)阻抗。附加覆蓋層和鈍化層可靠(kao)保護薄鉑(bo) 層,防止高溫條件下(xia)(xia)出現氧化和污染。

薄(bo)膜(mo)(mo)式(shi)(TF)熱電阻(zu)(zu)與繞線(xian)式(shi)(WW)熱電阻(zu)(zu)相比,突出優點為較(jiao)小的體積和較(jiao)好的抗振性。高(gao)溫(wen)條件 下(xia),薄(bo)膜(mo)(mo)式(shi)(TF)熱電阻(zu)(zu)的阻(zu)(zu)抗-溫(wen)度(du)關系偏差(cha)較(jiao)小,符合 IEC 60751 標準。因此,薄(bo)膜(mo)(mo)式(shi)(TF)熱電阻(zu)(zu)的溫(wen)度(du)測(ce)(ce)量誤差(cha)可(ke)達溫(wen)度(du)等 A,符合 IEC 60751 標準(Z高(gao)溫(wen)度(du)約為 300 °C (572 °F))。所以(yi), 薄(bo)膜(mo)(mo)式(shi)(TF)熱電阻(zu)(zu)通(tong)常僅在溫(wen)度(du)低于 400 °C (752 °F)的條件下(xia)測(ce)(ce)量。

Endress+Hauser 提供用于溫(wen)度(du)測(ce)量點(dian)的整套優化(hua)部(bu)件,包括將測(ce)量點(dian)無(wu)縫集成至整個工廠(chang)中的所 有(you)所需部(bu)件。包括:

• 電(dian)源(yuan)單元/隔離柵

• 顯示單元

• 過電壓(ya)保護單元

上(shang)海愛麟(lin)自動化(hua)設備有限公司(si)(si)一直以售后(hou)全程跟蹤(zong),用(yong)心服(fu)務(wu)每一位消費(fei)者(zhe)為(wei)行業(ye)準則,定(ding)時(shi)定(ding)點(dian)為(wei)每一位購(gou)買上(shang)海愛麟(lin)自動化(hua)設備有限公司(si)(si)產品的每一個(ge)用(yong)戶(hu)提供免費(fei)的專(zhuan)業(ye)產品檢測檢修服(fu)務(wu)。公司(si)(si)已通過多(duo)項安全認證,服(fu)務(wu)客(ke)戶(hu)上(shang)千家,有良好(hao)的業(ye)界口碑和專(zhuan)業(ye)技能。

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